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File:AFMsetup.jpg

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    原始檔案 （721 × 569 像素，檔案大小：86 KB，MIME 類型：image/jpeg）

    摘要

    描述
    English: Typical atomic force microscope (AFM) setup: The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured by reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample.
    Deutsch: Typischer Aufbau eines Rasterkraftmikroskops (RKM): Die Auslenkung eines Abtastarms (Englisch: Cantilever) mit einer feinen Tastspitze wird während des Abtastens der Oberfläche anhand der Auslenkung eines Laserstrahls bestimmt, der von der Oberseite des Abtastarms reflektiert wird.
    日期 2013-10-13--202.160.164.205 09:49, 3 October 2013 (UTC)--202.160.164.205 09:49, 3 October 2013 (UTC)
    來源

    http://kristian.molhave.dk

    作者 yashvant
    授權許可
    (重用此檔案)    		 CC-BY-2.5, please acknowledge the Opensource Handbook of Nanoscience and Nanotechnology if you use this illustration!
    File:AFM schematic (EN).svg是本檔案的向量版本。 如果品質不低，就應該優先使用該檔案，而非JPG檔案。
    File:AFMsetup.jpg → File:AFM schematic (EN).svg
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    目前2006年11月21日 (二) 14:10於 2006年11月21日 (二) 14:10 版本的縮圖721 × 569​（86 KB）KristianMolhave*Figure Caption: Typical AFM setup. The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured be reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample. *This illustration was made

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